Thiết Bị Phân Tích ICP-OES

Model: Ultima ExpertICP-OES là công nghệ phân tích được sử dụng cho việc phát hiện vết nguyên tố. Mẫu được chuyển hóa thành dạng sương mù và chuyển tới plasma Argon. Sau đó bị phân hủy, nguyên tử và ion hóa và bị kích thích. Cường độ ánh sáng phát ra khi nguyên tử hoặc ion trở về trạng thái năng lượng thấp hơn được ghi nhận. Mỗi nguyên tử phát ra tại bước sóng đặc trưng và các vạch đặc trưng này được sử dụng để phân tích định lượng và định tính.

Chủ yếu được sử dụng trong các ngành công nghiệp cho phân tích định lượng và định tính các nguyên tố:
+ Kim loại (thép, kim loại đen và kim loại mầu)
+ Sinh học, y tế, thực phẩm
+ Môi trường (nước máy, nước môi trường, đất, bụi không khí)
+ Khoáng sản địa chất (nguyên tố đất hiếm…)

– Thiết bị có thiết kế quang học chất lượng cao tích hợp cách tử ba chiều mật độ cao, chiều dài tiêu cự 1m, Total Plasma View độc đáo cho độ phân giải, độ nhạy, độ ổn định cao nhất cho hầu hết các ứng dụng.
– Đặc tính khí bao độc đáo cho độ ổn định vượt trội trên các mẫu khi tổng lượng chất rắn hòa tan cao, lên tới 30%.
– Vùng phủ bước sóng liên tục từ 120 tới 800 nm với tùy chọn vùng Far UV giúp cải thiện độ nhạy cho phân tích nhóm halogen hoặc các bước sóng thay đổi.
Đạt độ phân giải chưa từng có, giảm thiểu nhiễu phổ : <5 pm trong dải phổ 120-320 nm
– Với hệ thống cách tử kép chọn thêm, độ phân giải <6pm trong dải phổ trên 450nm cho các ma trận đa dòng như các nguyên tố đất hiếm, các ứng dụng địa chất hoặc kim loại quý.

Chức năng HiStab độc đáo mang tới sự ổn định vượt trội
– Hệ thống dò tìm HDD® được cấp bằng sáng chế, cho phép đơn phân tích trong phạm vi từ ppb tới mức phần trăm.
– Dải động học lên tới 10 trật tự khi sử dụng hình ảnh
– Tùy chọn polychromator 0.5m hoặc 1m cho phân tích đồng thời
– Bộ điều hướng hình ảnh – Image Navigator
– Image Navigator được thiết kế để phân tích bán định lượng khi thu thập toàn phổ.
– Hiển thị toàn phổ bằng khả năng hiển thị đa phổ.
– Khả năng so sánh hình ảnh với hiển thị phổ bị che phủ.
– Phân tích định lượng và bán định lượng tự động.

– MASTER, dễ dàng tìm được bước sóng đúng
– MASTER giúp tự động lựa chọn các vạch chính xác theo dải mật độ của mỗi nguyên tố và ma trận. MASTER được dựa trên S3-base được tạo ra bằng sự thu thập phổ ICP thực và chứa hơn 50.000 bước sóng được nhận diện bằng dữ liệu phổ đầy đủ.
– Lựa chọn bước sóng tự động
– Hiển thị phổ tổng hợp
– Độ nhạy, dải động học và mức độ giao thoa là những tiêu chí để điều chỉnh việc lựa chọn vạch.
– S3-base viewer
– S3-base viewer hiển thị toàn bộ S3-base, được tạo ra bằng sự thu thập phổ ICP thực và chứa hơn 50.000 bước sóng được nhận diện bằng các dữ liệu phổ hoàn chỉnh, giúp nhận diện các vạch phát xạ trong các mẫu chưa biết
– Có sẵn toàn bộ cơ sở dữ liệu S3-base

– Hiển thị bước sóng phân tích và mật độ, giới hạn phát hiện liên quan
– Hiển thị danh sách các đường phát xạ tiềm năng, bao gồm các vạch phát xạ có sẵn plasma, trong vùng lân cận của một bước sóng có mật độ và giới hạn phát hiện liên quan
– Hiển thị đồ thị của vạch phát xạ phân tích và các vạch phát xạ tiềm năng cho việc nhận diện.
– Bộ nguồn phát plasma: Trạng thái rắn, 40.68 MHz, làm mát bằng nước

Tourch: Tuorch hoàn toàn có thể tháo rời, vòi phun bằng nhôm có đường kính trong 3 mm, ống trong và ngoài bằng thủy tinh
– Bộ đưa mẫu: Ống phun ly tâm và buồng phun xoáy bằng thủy tinh, bơm nhu động 3 kênh, thiết bị bao khí.
– Hệ thống quang học: Ổn định nhiệt, chiều dài tiêu cự 1m, cách tử 2400g/mm được sử dụng tại trật tự 1 và 2 với độ phân giải quang học <5 -pm trong dải bước sóng 120-320 nm và <11 pm trong dải 320-800 nm
– Hệ thống cách tử kép chọn thêm
– Với 4320 g/mm và 2400 g/mm được sử dụng trong trật tự 1 với độ phân giải <6 pm trong dải bước sóng 120-450 nm và <11 pm trong dải 450-800 nm.
Tùy chọn: Polychromator 0.5m hoặc 1m.
Đầu thu: Hệ thống HDD được cấp bằng sáng chế